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典型應用
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單端光（guāng）器件測試（shì）
針對電（diàn）光（guāng）調製器、直接調製（zhì）激（jī）光器等電光器件的（de）S11參（cān）數和S21參數測試，利用多窗口顯示可快速獲取測（cè）試對象的各頻點反射和傳輸特性；針對光電探測器、ROSA、TIA集成組件等（děng）光電器件的S22參數和S21參數測試，利用光標功能可快速分析3dB帶寬（kuān），評估器件的頻響特性；針對光纖濾波器等光光器件的S21參數測試，可快速實現損耗、平坦度等指標的測量。
幅頻特性測試
利（lì）用儀器提供的多種顯示模式,可實現相位、群時延等信息的顯示，可快速實現相頻（pín）特性等（děng）指標的測量。
相頻特性測試
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平衡光器件測試
光波元件分析儀通過配置四端口機型，實現平衡光發射或光接收器（qì）件對差分增益（yì）和共模抑製參數的測試需求，更加貼合現有和未來高速光纖通信領域中多端口參數的測量場合。
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光芯片在片（piàn）測試
6433P光波元件分析儀搭配探針台及高頻探針，可實（shí）現電光/光電芯片的頻響參數的測試。
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自動化測試
6433P光波元件分析儀（yí）提供標準（zhǔn）的SCPI程（chéng）控指令集，方便用戶進行（háng）遠程控製。通過網口，隻需完成設備的互聯，發送命令即可實（shí）現一體化的自動測試方案（àn），方便用戶將光波元件分析儀（yí）與（yǔ）溫控、數字源（yuán）表及被測件等共（gòng）同搭建光芯片（piàn）測試係（xì）統（tǒng）。
