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產品綜述
6433P光波元件分析儀是麵向高速電光（guāng）器件、光電器件及光光器件調製特性（xìng）測（cè）試的儀器，頻率範圍覆蓋10MHz~110GHz，集成電電測（cè）試、電光測試（shì）、光電（diàn）測試及光光測試4種測（cè）試模式，具有對數/線性幅（fú）度、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示（shì）格（gé）式，能夠精確（què）測量光電網絡的（de）幅/相（xiàng）頻特性，主要應用於高速電光器件（電光強度調製器、直接調製激光器、光發射組件）、光電器件（探測器、光發射組件、探測器（qì）芯片）及光光器件（光衰減器、EDFA）的帶寬、幅（fú）/相頻、群時延等頻響參數（shù）的測試。
功能特點
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主要特點（diǎn）
10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋；
最小頻率分（fèn）辨率1Hz；
測試功能豐富，具備傳輸、反射等（děng）多種參數測試功能；
一體化多（duō）功能測（cè）試界（jiè）麵；
向導（dǎo）式校準及一鍵式快速掃頻測試；
多窗口顯示及快速分析；
自動夾具移除，快速獲取（qǔ）探針數據；具有USB、LAN等接口和SCPI程（chéng）控指令集（jí），可實現自動（dòng）測試（shì）
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10MHz~110GHz 寬頻帶同軸（zhóu）覆蓋
6433P光波元件分析（xī）儀調（diào）製頻率最高（gāo）可達110GHz，最（zuì）小頻率分辨（biàn）率為1Hz，可實現高速寬頻帶光器件及光芯（xīn）片調製特性測試。
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一體化多功能測試向導界麵
6433P光波元件分析儀具備電電、電（diàn）光、光電、光光四種測量模式（shì），功能模式之間可任意切換，可滿足光器件的S參數、阻抗、時（shí）域等參數測量需求。一體化多功能界麵（miàn）方（fāng）便用戶快速完成測量模式、光波參（cān）數、光路去嵌入參數、射頻去嵌入等參數的設（shè）置。
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向導式校準及一鍵式測試
6433P光波（bō）元件分析儀（yí）進行微波域的電電校準及光（guāng）波域的光路校準時，采用向導式（shì）校準，方便用戶對儀器進行快速（sù）校準，獲得被測件準確（què）的（de）測試結果。同時采（cǎi）用一體化集成設計方案，利用核心算法（fǎ），實現電光/光電/光光器件（jiàn）一鍵式寬帶快速掃頻測試。
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多窗口快速顯示及（jí）分析
6433P光波元件分析儀最多支持64個測量通道，32個測量窗口，每個窗口最多可同時顯示（shì）16條測試（shì）軌跡，可實現結果的多窗口、多格式顯示。
高分辨率多點觸控電容屏可快速實現各種（zhǒng）輸入和選擇操（cāo）作，快捷高效，便於用戶快速分析數據，為用戶提供全新的光波元件分析（xī）儀操作體驗（yàn）。
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自動夾具移除（chú），快速獲取探針數據
6433P光波元件分析儀利用自動夾具移除功能可快速解決光（guāng）芯片S參數測試難題。測試時，將高頻探針等效為夾具，通過自動夾具移除功能測量高頻探針（zhēn）的時域（yù）參數，利用信號（hào）流圖提取頻域參（cān）數，形成s2p文件，進而通過射頻（pín）去嵌入，實現光芯片的高精度S參數測試。
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型號 |
調製頻（pín）率範圍 |
工（gōng）作（zuò）波長 |
光（guāng）功率測試範圍 |
動態範圍 |
對比 |
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