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2026-01-14
太赫茲技術正加速從實驗室走向商業應用,使得(dé)行業對(duì)太赫茲芯片測試的要求發(fā)生(shēng)了根本性轉變:測試目標已(yǐ)不再局限於(yú)功能層麵的“能用”,而是全麵追求複雜(zá)真實場景中性能穩(wěn)定(dìng)、測試高效且成本可控的“好用”。
午夜福利视频科技研製出3601型(xíng)S參數測(cè)試(shì)模塊、36102型探針、20501型校準片(piàn)等係列產品,結合商業探(tàn)針台,國內首次推(tuī)出最高頻率至500GHz的高穩定、多功能太赫茲芯片測試解決方案。
圖1 330GHz-500GHz頻段芯片測試儀 高頻 采用分頻段的方式,可將芯(xīn)片測試頻率擴展至500GHz,能夠實現太赫茲芯片幅度、相位、群(qún)時延等參數精準測試。330GHz-500GHz頻段在(zài)片雙端口(kǒu)校準後,Thru校驗結果如圖2所示。 圖2 在片(piàn)校準後Thru校驗結果 高穩定 該方(fāng)案在(zài)500GHz頻(pín)段具有良(liáng)好(hǎo)的幅度穩(wěn)定性和相位穩定性,能夠適於晶圓級太(tài)赫茲芯片(piàn)的研發驗(yàn)證與量產測(cè)試。圖3為330GHz-500GHz頻段校準(zhǔn)後,幅度和相位穩定性(xìng)測試結(jié)果。 (a)幅度穩定性 (b)相位穩定性 圖3 穩定性(xìng)測試結果(guǒ) 多功能 結合自主開發的多功能測試軟件算法,一次紮針可實現散射參數、功率參數的一體化測試(shì),可大幅度提升(shēng)晶圓(yuán)級太赫茲芯片的測(cè)試(shì)效率和測試精度。圖4為某放(fàng)大器芯(xīn)片散射參數(小信(xìn)號增益(yì)、回波損耗,隔離度)和功率(lǜ)參數(輸(shū)入功(gōng)率、輸出功率)測試結果。 圖4 放大器性能(néng)測試結(jié)果 午夜福利视频科技持續關注半導體測試領域(yù)創新,除具備高頻測試能力之外,還具備多端口、超(chāo)寬帶、調製解調等測試能力,已形成微波(bō)毫米波與太赫茲晶圓級芯片測試解決方案,可助您構築穩定、高(gāo)效的測試環境,解決您的在片測試(shì)難題!




2026-01-14
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